Número de peça do fabricante : | SN74BCT8244ANTG4 | Estado de RoHS : | Sem chumbo / acordo com RoHS |
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Fabricante / Marca : | Luminary Micro / Texas Instruments | Condição de estoque : | 4067 pcs Stock |
Descrição : | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Navio De : | Hong Kong |
Fichas de dados : | Caminho de embarque : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Número de parte | SN74BCT8244ANTG4 |
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Fabricante | |
Descrição | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
Status sem chumbo / Status RoHS | Sem chumbo / acordo com RoHS |
Quantidade Disponível | 4067 pcs |
Fichas de dados | |
Tensão de alimentação | 4.5 V ~ 5.5 V |
Embalagem do dispositivo fornecedor | 24-PDIP |
Série | 74BCT |
Embalagem | Tube |
Caixa / Gabinete | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Outros nomes | SN74BCT8244ANTE4 SN74BCT8244ANTE4-ND |
Temperatura de operação | 0°C ~ 70°C |
Número de bits | 8 |
Tipo de montagem | Through Hole |
Nível de sensibilidade à umidade (MSL) | 1 (Unlimited) |
Tipo de lógica | Scan Test Device with Buffers |
Status sem chumbo / status de RoHS | Lead free / RoHS Compliant |
Descrição detalhada | Scan Test Device with Buffers IC 24-PDIP |
Número da peça base | 74BCT8244 |
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC