Número de peça do fabricante : | 8V182512IDGGREP |
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Estado de RoHS : | Sem chumbo / acordo com RoHS |
Fabricante / Marca : | Luminary Micro / Texas Instruments |
Condição de estoque : | 2101 pcs Stock |
Descrição : | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Navio De : | Hong Kong |
Fichas de dados : | |
Caminho de embarque : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Número de parte | 8V182512IDGGREP |
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Fabricante | |
Descrição | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Status sem chumbo / Status RoHS | Sem chumbo / acordo com RoHS |
Quantidade Disponível | 2101 pcs |
Fichas de dados | |
Tensão de alimentação | 2.7 V ~ 3.6 V |
Embalagem do dispositivo fornecedor | 64-TSSOP |
Série | - |
Embalagem | Tape & Reel (TR) |
Caixa / Gabinete | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
Outros nomes | 296-22075-2 V62/04730-01XE |
Temperatura de operação | -40°C ~ 85°C |
Número de bits | 18 |
Tipo de montagem | Surface Mount |
Nível de sensibilidade à umidade (MSL) | 1 (Unlimited) |
Tempo de entrega padrão do fabricante | 42 Weeks |
Tipo de lógica | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Status sem chumbo / status de RoHS | Lead free / RoHS Compliant |
Descrição detalhada | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP |
Número da peça base | 74LVTH182512 |
IC REGISTERED BUFFER 160-TFBGA
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 48SSOP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536-1
IC RECEIVER/DRVR ECL DIFF 8SOIC
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC DRIVER QUAD DIFF PECL 16-SOIC
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536